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超声波测厚仪 ADL-UT35 设计用于测量由金属合金和各向同性非金属材料制成的产品和结构的厚度,并可单侧接触它们。
测厚仪ADL-UT35常用于快速测量由各种材料制成的产品的厚度,这些材料受到腐蚀、侵蚀、内部沉积物,包括那些具有粗粒度结构的产品、金属和非金属产品:板材、容器、管道、管道、桥梁、船体、运输和其他结构,在其运行过程中或制造后。
测厚仪的优点是以 A 扫描的形式表示信号、通过涂层进行厚度控制、构建被检查表面的厚度轮廓(B 扫描)、测量超小厚度、有用信号的广泛功能放大、简单的设备设置、明亮多彩的显示、各种测量模式厚度、广泛的传感器库、 使用任何换能器的能力。
无论是平坦的还是弯曲的,您都会得到准确的厚度。使用 UT35 测厚仪,您可以使用频率为 0.5 至 15 MHz 的任何超声波换能器,包括组合式(包括延迟线)和分离式组合式(分离式)。
测厚仪实现了各种厚度控制的可能性——高精度测量通过“零”的过渡时间、测量“回波-回波”信号之间的时间、测量涂层下金属的厚度等。
屏幕上存在真实信号,可以消除使用超声波检测进行厚度测量的典型误差,并提高测量精度。
ADL-UT35测厚仪的特点:
测量范围从 0.4 到 600 毫米
自动检测带有内置存储器的连接传感器
连接高达 350 °С 的高温转换器
测量方法:
脉冲 – 回波 – 经典测量方法
回波-回波-回波 – 通过涂层测量金属厚度
图形显示和保存 A 和 B 扫描
连接各种传感器(组合和单独组合)
能够设置厚度公差(上限和下限值)
由于强大的微控制器和额外的 RAM,测量和处理速度快
能够校准材料中的超声波速度和材料的厚度
可靠的防震防尘防潮外壳
保存大量测量结果,包括A和B扫描
专用软件
亮度可调的彩色高对比度显示屏
通过标准 USB-C 连接器将数据传输到 PC
无需清洁表面即可测量涂层厚度
B 扫描的存在,可让您构建产品底部的准确且视觉清晰的轮廓,并在整个扫描时间内将信号固定为最低限度。此功能允许您快速扫描大面积区域
A 扫描形式的信号的存在消除了测量误差,因为操作员通过扫描上的标记了解测量是在哪个区域捕获的,与传统的数字相比(典型的误差是厚度加倍),因此,测量的准确性提高了
在设置模式下,可以调整接收路径的增益、AGC、TCG、发生器和接收器参数、棱镜延迟校准和材料速度等
高精度过零测量、两个独立门和最新的低噪声接收器允许在“回波-回波-回波”模式下使用组合传感器精确测量超薄厚度,包括在各种涂层下
“DIGIT”模式允许您从典型传统应用程序的屏幕上删除不必要的信息,将良好的技术设备变成易于使用的控制工具
在“TABLE”模式下,用户可以通过标记控制点来创建表格矩阵,用于控制大型标准产品。这组结果可以传输到 PC 进行后续统计分析
借助传感器库,仪器的设置既快速又简单
可靠性和安全性高,在车间工作时非常方便
方便地固定在操作员的手上,大大方便了在难以到达的地方或操作员需要解放双手时在高处的工作
广泛的功能 – 允许您将该设备用于各种厚度测量任务
可以测量 0.4 毫米厚的薄产品
存在专家模式,您可以在其中查看无线电信号并控制两个闪光灯进行各种实验和研究
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