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GCI E84 手持式测试仪是用于 E84 维护、故障排查和安装应用的便携式解决方案。它是一款集成的 E84 测试工具，将实时信号显示、电压电流测量和测试结果存储功能集于一身。使用 E84 手持式测试仪，可以快速找到 E84 接口问题的答案。其 SD 卡接口允许保存测试结果并传输至 PC 进行…
E84 数据记录仪 (DLD)型号：GCI 06001记录 E84 信号状态变化，帮助现场技术人员快速识别信号异常。包含 E84 分析应用程序，可对信号状态数据进行图形化分析。该设备体积小巧，可即插即用，安装在被动物理接口与光收发器之间，捕获 E84 信号状态变化并将其写入内部非易失性存储器…
GCI E84 模拟器是用于开发、实施和验证符合 SEMI® E84™ 标准产品的测试设备。E84 模拟器提供自动化测试程序，用于测试有源和无源设备的并行输入/输出控制信号。SEMI® E84™ 标准定义了晶圆制造设施中自动物料搬运系统与生产设备之间传输过程中使用的控制信号。E84 模拟器通过 …
型号 CS015 催化剥离器技术规格进气流量：1.5 升/分钟氧化效率：> 99%（以丙烷为基准）固体颗粒损失率：< 40%（粒径为 100 纳米时）
型号 CS08 催化剥离器规格参数入口流速 – 8 升/分钟氧化效率 – 丙烷去除率 >99%固体颗粒损失 – 100 纳米下 <40%
型号 CS10 催化剥离器规格参数入口流速 – 10 升/分钟氧化效率 – 丙烷去除率 >99%固体颗粒损失 – 100 纳米下 <40%
300mm 斯托克斯晶圆扫描™椭偏仪型号 LSE-WS 斯托克斯晶圆扫描椭偏仪是一款用于薄膜厚度分布成像的系统，测量速度可达每秒一个点位（包含样品台移动时间）。它采用斯托克斯计量技术，可在最大 300mm 的晶圆上提供免倾斜调整、免对焦操作的二维/三维厚度与折射率分布图。该仪器设…
多波长激光椭偏仪使用户在测量透明与半透明薄膜的厚度和折射率时具有灵活性与准确性。激光光源强度充足，可提升对吸收性薄膜和粗糙散射薄膜的测量精度。激光光源还具备光谱精确、稳定、使用寿命长的优势。独立的激光光源提供了重要的备份可靠性，适用于连续运行。产品特点测量厚…
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