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地 址：深圳市龙华区观澜大道75号田背花园E单元806
设备体积小巧，可单手握持，适用于多种常规应用场景。
光学结构经过优化设计。
狭缝、光学滤光片支持用户自行更换。
检测波段：紫外‑可见‑近红外（185‑1100 nm）
光纤光谱仪，配套 LightScan 软件。
通用场景适用
设备结构紧凑，配置灵活，具备不错的灵敏度，可集成至多数常规光谱测试系统。
便于接入测试系统
SMA 光纤接口，可对接多种光谱测试装置，无需复杂光学调校。设备自带触发集成工具，支持触发输入输出、延时功能。搭配 SPEC Hub 组件，可对 FLEX 及整套光谱组件做集中管控。
可调节光谱仪灵敏度与分辨率
FLEX 光谱仪配有可更换狭缝以及光学滤光片。用户更换狭缝，可调整分辨率与灵敏度；更换滤光片，可限定仪器工作波长区间。可在短时间内完成吸光度、荧光测试模式切换。可选购狭缝套件，拓展使用选择。
光学表现，低杂散光
FLEX 可用于吸光度、透射率测量。通过光学、机械结构协同优化，设备全工作光谱区间杂散光占比小于 0.1%。
单台光谱仪支持吸光度与反射 ance 测量
FLEX 可搭配大功率氘‑钨卤（DWHP）光源使用。 吸光度测量：需要配置标准比色皿支架与光纤。 反射率测量：需要配置反射探头。
多测量模式可选
吸光度
反射率
荧光
FLEX 分为标准版本（STD）、高分辨率版本（RES+），提供整机成品、用户自定义两种配置方案。两类版本均可选择增强灵敏度配置，配套集光光学组件。自定义配置可以根据实际应用需求调整设备参数。
技术参数表
| 参数 | 紫外‑可见‑近红外 UV‑Vis‑NIR | 紫外‑可见 UV‑Vis | 可见‑近红外 Vis‑NIR |
|---|---|---|---|
| 工作波长范围 | 185‑1100 nm | 185‑900 nm | 360‑1100 nm |
| 光栅型号 | G‑UV‑Vis‑NIR | G‑UV‑Vis | G‑Vis‑NIR |
| 标准模式光学分辨率 STD | 1.7 nm（25 μm 狭缝） | 1.4 nm（25 μm 狭缝） | 1.4 nm（25 μm 狭缝） |
| 高分辨率模式光学分辨率 RES | 0.75 nm（10 μm 狭缝） | 0.6 nm（10 μm 狭缝） | 0.6 nm（10 μm 狭缝） |
| 项目 | 参数 |
|---|---|
| 光纤接口 | SMA‑905 |
| 通讯接口 | Mini‑UBS（同时可作为供电接口） |
| 积分时间 | 标准 STD 最小 2 ms / 高分辨 RES + 最小 3 ms |
| 聚光透镜 | 可选配件；增强灵敏度版本标配 |
| 外形尺寸 | 长 100 mm × 深 89 mm × 高 42 mm，重量 450 g |
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