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小型光学平台，兼顾采集速度与灵敏度。
属于拓展型通用设备方案 适用于弱光检测场景 狭缝与光学滤光片支持用户自行更换 采用背减薄 CCD 探测器，具备较高灵敏度 采集速度快，burst 模式最高可达 2587 帧光谱 / 秒 配套 LightScan 软件
拓展型通用设备方案
FLEX + 光谱仪结构紧凑、模块化，可适配多种光谱测试系统。继承 FLEX 全部功能，进一步提升灵敏度与采集速率，一台设备可满足多种应用场景。
高速采集，用于实时事件监测
FLEX + 支持最低 2 微秒积分时间（开启电子快门）；burst 爆发模式下每秒最高采集 2587 帧光谱。适合化学、生化等需要捕捉快速反应过程的检测场景。
便于接入测试系统
SMA 光纤接口，可对接多种光谱测试装置，无需复杂光学调校。配备触发集成工具，支持触发输入、输出以及延时功能。可搭配 SPEC Hub 组件，实现 FLEX + 以及整套光谱组件集中管控。
适用于弱光检测场景
FLEX + 采用滨松背照式 CCD 探测器，具备低暗计数特性。探测器像素高度为 1 mm，可满足弱光条件下的测量需求。
调节光谱仪灵敏度与分辨率
FLEX + 支持可更换狭缝以及光学滤光片。 更换狭缝，便于调整适配所需的分辨率与灵敏度；可更换光学滤光片能够缩小仪器的工作波长区间。借助以上部件，可快速完成吸光度测量向荧光测量的配置切换。订货时选配狭缝套件，可获得更多配置选择。
FLEX+ 技术参数表
| 参数 | 紫外‑可见‑近红外 UV‑Vis‑NIR | 紫外‑可见 UV‑Vis | 可见‑近红外 Vis‑NIR |
|---|---|---|---|
| 工作波长范围 | 185‑1100 nm | 185‑900 nm | 360‑1100 nm |
| 光栅型号 | G‑UV‑Vis‑NIR | G‑UV‑Vis | G‑Vis‑NIR |
| 光学分辨率 | 1.7 nm（25 μm 狭缝） | 1.4 nm（25 μm 狭缝） | 1.4 nm（25 μm 狭缝） |
探测器：2048 像素滨松背减薄 CCD
光纤接口：SMA‑905
通讯接口：Mini‑UBS
积分时间：最低 2 微秒
触发：输入 / 输出
配套软件：Lightscan
外形尺寸：长 110 mm × 深 110 mm × 高 40 mm
重量：750 g
FLEX+ 订货信息
| 设备型号 | 基础版 (Base) | 增强灵敏度版 (Improved Sensitivity) |
|---|---|---|
| FLEX+ 紫外‑可见‑近红外光谱仪 | PLUS‑UV‑Vis‑NIR | PLUS‑UV‑Vis‑NIR‑IS |
| FLEX+ 紫外‑可见光谱仪 | PLUS‑UV‑Vis | PLUS‑UV‑Vis‑IS |
| FLEX+ 可见‑近红外光谱仪 | PLUS‑Vis‑NIR | PLUS‑Vis‑NIR‑IS |
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