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高分辨率光谱仪，可区分间距很近的光谱特征
适用于各类高分辨率测量场景
狭缝与光学滤光片支持用户自行更换
光学分辨率可达 0.05 nm（FWHM）
优化光学结构，焦距 100 mm
标配 LightScan 软件
适用于高分辨率测量应用
X‑RES 光谱仪采用优化的 100 mm 焦距光学结构与高性能光学器件，可分辨低至 0.05 nm 的光谱细节。仪器提供 8 组互补的预配置波长范围，在整个紫外‑可见‑近红外区间实现高分辨检测能力。
调节光谱仪灵敏度与分辨率
X‑RES 光谱仪狭缝与光学滤光片支持用户自行更换。可更换狭缝便于调节分辨率与灵敏度之间的平衡；可更换光学滤光片可限定仪器实际工作波长区间。
便于集成至测试系统
X‑RES 为光纤耦合型光谱仪，可对接多种实验装置，无需复杂光学对准。设备配套多种集成工具，包含触发输入输出、延时功能，以及 LabVIEW程序库、DLL 动态链接库，支持二次软件开发。可通过 SPEC Hub 方案对 X‑RES 及整套光谱系统组件实现集中管控。
原子发射谱线表征
该光谱为 X‑RES 光谱仪（500‑620 nm 配置）实测汞、氖、氦元素原子发射谱线的案例。测试结果显示，仪器在全波段具备良好的谱线对称性与分辨能力。即便在 570‑610 nm 区间谱峰分布密集，依然可以实现有效谱峰分离。
规格表
| 参数 | 技术指标 |
|---|---|
| 工作光谱范围 | 185‑1100 nm（分为 8 个工作波段） |
| 光栅 | 根据所选波段配置 |
| 狭缝宽度 | 10 μm |
| 光学分辨率 | 0.05‑0.1 nm |
| 探测器 | 东芝 3648 像素 |
| 触发 | 输入 / 输出 |
| 光纤接口 | SMA‑905 |
| 通讯接口 | Mini‑USB（同时供电） |
| 积分时间 | 最小 3 ms |
| 外形尺寸 | 175 mm (长) × 151 mm (深) × 50 mm (高) |
| 重量 | 1.5 Kg |
订货信息表
| 产品描述 | 工作波长范围 | 订货号‑基础版本 | 订货号‑高灵敏度版本 |
|---|---|---|---|
| X‑RES 1 光谱仪 | 190‑290 nm | X‑RES‑1 | X‑RES‑1‑IS |
| X‑RES 2 光谱仪 | 280‑380 nm | X‑RES‑2 | X‑RES‑2‑IS |
| X‑RES 3 光谱仪 | 370‑460 nm | X‑RES‑3 | X‑RES‑3‑IS |
| X‑RES 4 光谱仪 | 440‑520 nm | X‑RES‑4 | X‑RES‑4‑IS |
| X‑RES 5 光谱仪 | 500‑620 nm | X‑RES‑5 | X‑RES‑5‑IS |
| X‑RES 6 光谱仪 | 600‑710 nm | X‑RES‑6 | X‑RES‑6‑IS |
| X‑RES 7 光谱仪 | 690‑810 nm | X‑RES‑7 | X‑RES‑7‑IS |
| X‑RES 8 光谱仪 | 780‑960 nm | X‑RES‑8 | X‑RES‑8‑IS |
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