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适用于近红外光谱检测,具备高配置灵活性
检测波长范围:850‑2500 nm
热电制冷 InGaAs 探测器,实现低噪声信号输出与良好的光谱稳定性
可更换狭缝与光学滤光片,用户可自主调节灵敏度、光学分辨率以及检测波段
易于系统集成:支持光纤耦合与触发功能
高性能电路,搭载 18 位 ADC;可选配电池组,支持现场户外测量
标配 LightScan 2.0 软件
宽光谱范围,获取丰富测量信息
ProNIR 系列可与 UV‑Vis‑NIR 光谱仪(FLEX、FLEX+、SENSE、X‑RES)搭配使用,完成宽波段吸收、透射、反射光谱测试。LightScan 2.0 软件内置同步采集功能,可单次完成 185‑2500 nm 全光谱采集,耗时仅数毫秒。
适配多类应用,灵活搭建测试系统
ProNIR 系列采用光纤耦合方式,可对接各类光谱测试装置,无需复杂光学对准。用户可更换狭缝与光学滤光片,针对不同应用场景优化光学表现。设备配套多种集成工具,包含触发输入输出、延时功能,同时提供 LabVIEW™程序库与 DLL 文件,支持二次软件开发。
制冷探测器,保障测量稳定性
ProNIR 系列探测器搭载热电制冷模块,可将 InGaAs 光电二极管阵列降温至‑20 °C。该设计能够降低信号噪声,提升光谱仪热稳定性,长时间工作条件下也可获得可靠采集数据。
调节光谱仪灵敏度与光学分辨率
ProNIR 配置可更换狭缝与光学滤光片。可更换狭缝便于调节分辨率‑灵敏度的匹配关系;可更换光学滤光片可限定仪器实际工作波段。可在数分钟内完成吸光度测试与反射率测试两种模式之间的切换。可选购狭缝套件,进一步拓展设备调节能力。
规格表
| 参数 | ProNIR 1 | ProNIR 2 | ProNIR 3 |
|---|---|---|---|
| 工作光谱范围 | 850‑1450 nm | 950‑1700 nm | 1000‑2500 nm |
| 光栅 | G‑NIR‑1 | G‑NIR‑2 | G‑NIR‑3 |
| 狭缝 | 50 μm | 50 μm | 50 μm |
| 探测器 | 512 像素 热电制冷 InGaAs | 512 像素 热电制冷 InGaAs | 512 像素 热电制冷 InGaAs |
| 光纤接口 | SMA‑905 | SMA‑905 | SMA‑905 |
| A/D 转换器 | 18 位 | 18 位 | 18 位 |
| 积分时间 | 最小 1 ms | 最小 1 ms | 最小 1 ms |
| 外形尺寸 | 192 mm (长) × 137 mm (深) × 75 mm (高)(重量:1.5 Kg) | 192 mm (长) × 137 mm (深) × 75 mm (高)(重量:1.5 Kg) | 192 mm (长) × 137 mm (深) × 75 mm (高)(重量:1.5 Kg) |
订货信息表
| 产品描述 | 订货号 |
|---|---|
| ProNIR 1 光谱仪 | PRO-NIR-1 |
| ProNIR 2 光谱仪 | PRO-NIR-2 |
| ProNIR 3 光谱仪 | PRO-NIR-3 |
| 近红外光谱仪电池组(选配件) | NIR-BAT |
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